产品质量检验
集成电路电磁抗扰度测量第2部分:辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method
IEC62132-2:2010
- 领域
- 产品质量检验
- 数据更新时间
- 备注
- 无
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