产品质量检验
修改件1半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
IEC60749-23:2004/AMD1:2011
- 领域
- 产品质量检验
- 数据更新时间
- 备注
- 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请
数据来源于官方 CMA 能力项目库，平台查询仅供参考，最终以官方平台为准。
注册后导入企业能力附表（下一期开放）