产品质量检验
半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电(ESD)灵敏度试验带电器件模型(CDM)器件级Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
IEC60749-28:2022
- 领域
- 产品质量检验
- 数据更新时间
- 备注
- 无
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