产品质量检验
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热､稳态､高加速应力试验(HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
IEC60749-4:2017
- 领域
- 产品质量检验
- 数据更新时间
- 备注
- 无
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